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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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OTSUKA大塚電子MCPD-6800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子MCPD-9800多通道光譜儀塔瑪薩崎電子代理這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 光譜測量可在短短 5 ms 內(nèi)完成。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖允許各種測量系統(tǒng)，而無需指定樣品種類。 除了顯微光譜、光源發(fā)光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結(jié)合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A3光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A2光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子OPTM-A1光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子FE-300F光學(xué)測量膜厚計塔瑪薩崎電子用簡單操作實(shí)現(xiàn)了高精度的光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。采用了將必要的機(jī)器收納在本體部的多功能一體式機(jī)箱，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)獲取。雖然價格低，但通過取得**反射率，也可以分析光學(xué)常數(shù)。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀 帶AS50塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneoSE粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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OTSUKA大塚電子ELSZneo粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導(dǎo)體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導(dǎo)體行業(yè)Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
